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  • 2-冷热平板-TP104G
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    • 冷热平板

    • 温度范围 -120℃～400℃

      温度稳定性 ±0.05℃

      温度均匀性 ±2%

      气氛保护、真空

      样品区 2寸～12寸

      台面平整度 25um

      台面电位 电接地 三同轴 背电极 可选

      适配仪器 显微镜、光谱仪、手动探针台 半自动探针台 激光退火

      适用领域 材料、化工、半导体 芯片 OLED光学变温 晶圆测试

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其他定制产品

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定制mini真空探针台 主要用于半导体测试，测试样品在不同温度下的电学性能，4个探针，同时提供8个接线端子，可以测试材料和器件，并能用红外相机观察样品的温度变化 温度范围：-190℃～200℃。温控区 28mm*30mm.红外窗口，可用于拉曼或者红外光谱仪观察 4个BNC接口可测试nA级别的电流

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