通用光谱冷热台
广泛应用于各类光谱系统下的材料变温实验表征，设计小巧，便携集成，为各类光谱系统下的变温实验提供最佳解决方案。
温度范围 -190℃～600℃
温度稳定性 ±0.05℃
气氛保护、真空、高压
样品区 ∮26mm
适配光谱系统 拉曼 红外 荧光 紫外 椭偏仪 XRD SEM
拉伸冷热台
为航空航天金属材料、高分子材料、柔性材料等在高低温环境中测试力学性能而设计，同时可搭配显微观察，以实现对试样变温力学实验的表征。
温度范围 -190℃～350℃
温度稳定性 ±0.05℃
适用样品尺寸 最大 8 mm（宽）x 80 mm（长）x 2 mm（厚）
拉力 20N 200N 500N 1000N 2000N 5000N 可选
力学模式 拉伸 压缩 三点弯 剪切
适配显微镜 透射 反射 正置 倒置
比色皿冷热台
一款专为比色皿样品设计的冷热台，为比色皿样品在光谱系统下的变温实验提供解决方案。
温度范围 -190℃～600℃
温度稳定性 ±0.05℃
适用比色皿 12.5x3.5
适用样品 液体 粉末
适配光学仪器 荧光 分光光度计
椭偏仪专用冷热台
一款专为椭偏仪设计的冷热台，特殊的光学结构，样品在椭偏仪光谱系统下的变温实验提供解决方案。
温度范围 -190℃～600℃
温度稳定性 ±0.05℃
气氛保护、真空
样品区 ∮26mm
适配光谱系统：椭偏仪
X射线专用高温热台
一款专为XRD小角衍射的冷热台，特殊的光学结构，为样品在X射线下的变温实验提供解决方案。
温度范围 -190℃～1200℃
温度稳定性 ±0.05℃
气氛保护、真空
样品区 ∮26mm，∮12mm
适配光谱系统：XRD衍射仪
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