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能实现高精度的温度控制,又能满足空间节省的要求适合电子元器件、半导体零件、液晶面板的可靠性试验。多种性能规格可满足(RT+20℃)~+200℃ ,22.5L、64L的温度试验要求。
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能实现高精度的温度控制,又能满足空间节省的要求适合电子元器件、半导体零件、液晶面板的可靠性试验。多种性能规格可满足(RT+20℃)~+200℃ ,22.5L、64L的温度试验要求。
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