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mini温控探针台
mini温控探针台
原位电学测试平台,适用于半导体材料、器件变温下的电学测试,设计小巧,便携集成显微、光谱系统。

温度范围 -190℃~600℃,RT~1000℃

温度稳定性 ±0.05℃

气氛保护、真空

样品区 28x30mm

探针数量 4个

电学接头 BNC 三同轴BNC 可选

台面电位 电接地 三同轴 背电极 可选

适配光学仪器 显微镜 光谱仪 铁电 介电 电化学工作站 磁场 电学源表 半导体分析仪 DLTS

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真空温控探针台
真空温控探针台
实验室真空变温电学测试平台,外部可移动探针臂精准点针,为真空变温实验提供解决方案,同时可集成显微镜、光谱系统进行材料表征

温度范围 -190℃~400℃,RT~1000℃

温度稳定性 ±0.05℃

样品区 ∮26mm

探针数量 4~7个

电学接头 BNC 三同轴BNC 可选

台面电位 电接地 三同轴 背电极 可选 探针臂行程 粗调 20mm*20mm,微调 10mm*10mm*3mm,精度<10um

适配仪器 显微镜 光谱仪 铁电 介电 电化学工作站 磁场 电学源表 半导体分析仪 DLTS

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高真空温控探针台
高真空温控探针台
实验室高真空变温电学测试平台,外部可移动探针臂精准点针,为真空变温实验提供解决方案,同时可集成显微镜、光谱系统进行材料表征。

温度范围 -190℃~400℃,RT~1000℃

温度稳定性 ±0.05℃

样品区 28x30mm

探针数量 4~7个

电学接头 BNC 三同轴BNC 可选

台面电位 电接地 三同轴 背电极 可选

探针臂行程 粗调 30mm*30mm,微调 20mm*20mm*10mm,精度<10um

适配仪器 铁电 介电 电化学工作站 磁场 电学源表 半导体分析仪 DLTS

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简易真空温控探针台
简易真空温控探针台
变温半导体测试平台,适用于半导体材料、器件在真空环境下的变温电学测试,可集成原位电学测试。

温度范围 -190℃~400℃,RT~1000℃

温度稳定性 ±0.05℃

样品区 ∮26mm

探针数量 4-7个

电学接头 BNC 三同轴BNC 可选

台面电位 电接地 三同轴 背电极 可选

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