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相变温度分析仪PCA

热特性系列

产品简介：

相变温度分析仪 PCA 是根据材料相变前后光学性质（反射光功率）有较大差异的特性，在程序控温下，使用一束恒定功率的激光照射样品表面，记录反射光功率变化，形成反射光功率与温度变化曲线，从而确定相变温度。
应用功能
各种材料相变温度（融化、软化、晶化等）的实时测定；
新型材料（相变材料、相变储能材料）的稳定性测试及性能优化；
新型相变机理（晶化温度的尺寸效应、材料的结晶动力学过程等）研究；产品咨询

功能特点

采用具有专利技术的光学系统检测原理，配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件，仪器性能优越；
不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品，为客户对材料的研究提供更大的便利和支持；
无损检测，不破坏样品，节约成本；

温控参数

应用材料

NiAl 复合薄膜； GeTe 薄膜； Ni-Mn-Ga 薄膜；SiC 薄膜；Al2O3薄膜； TiN 薄膜； PZT 铁电材料；掺 Ti 的 ZnSb 薄膜；金属 Co 薄膜；形变记忆合金材料；二氧化钒薄膜 ZrO2 薄膜；GST 相变存储薄膜 MgO薄膜；显示屏玻璃 ……

温度范围	RT~1100℃
程序升温重复性	＜1%（10℃/s，中间段）
相变温度测量精密度	＜±3%
升温速率	50℃/s
温度均匀性	≤1%设定温度
相变薄膜材料检测厚度下限	1×10-9m

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