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热膨胀系数分析仪

热特性系列
热膨胀系数分析仪

产品简介:

热膨胀系数分析仪TEA 采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
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功能特点

自主知识产权产品,拥有多项技术专利;
基于光干涉原理的创新技术;
采用 PID 调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式,大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制;
非接触式无损检测,测试精度高;
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力;

温控参数

温度范围

RT~1200℃

程序升温重复性/速率偏差

<1.0%(10℃/s,中间段)

热膨胀系数测量精度

<±4.5%

升温速度

50 ℃/s 

温场一致性

≤1%

真空

5Pa(机械泵)

5*10-2pa(分子泵)




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