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021-62412881
| 器件类型 | 应用测试 |
| CMOS 晶体管 | ld-Vg、ld-Vd、Vth、击穿、电容、QSCV 等 |
| 双极晶体管 | Ic-Vc、二极管、Gummel 曲线图、击穿、三极管、电容等 |
| 分立器件 | Id-Vg、ld-Vd、lc-Vc、二极管等 |
| 存储器 | Vth、电容、耐久测试等 |
| 功率器件 | 脉冲 Id-Vg、脉冲 ld-Vd、击穿等 |
| 纳米器件 | 电阻、ld-Vg、ld-Vd、lc-Vc 等 |
| 可靠性测试 | NBTI/PBTI、电荷泵、电迁移、热载子注入、恒增电流(J-Ramp)、TDDB 等 |
| 以及其它 | 以及其它 |