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液晶材料特性测试系统

液晶测试类
液晶材料特性测试系统

产品简介:

液晶综合参数测试与包含配件冷热台在内的温控等著称,产品承载其专家团队 40+年专注,液晶测试设备依托有名液晶 NoelClark 教授团队的科研成果,为全球需求者提供高品质的仪器设备,液晶综合参数测试仪主要应用于材料科学领域,是一种专门用于测试液晶材料特性的仪器,它能够测定液晶材料特性参数,为用户在材料开发、品质管理、不良解析、工艺和材料优化等方面提供了可靠的检测手段。测试通道可从1扩张致8通道同时测试或24和48通道扫描测试选择,实现各功能部件一体化,测试主机和电脑对接可使用USB线,可使用笔记本电脑控制测试。
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功能特点

液晶材料特性测试系统
核心参数测试能力:介电特性测量,弹性常数与阈值电压,旋转粘度与响应特性
高精度与扩展性:宽动态量程设计,温控与环境模拟,‌功能模块化拓展,兼容光学配件及定制化液晶测试盒,可升级测量弹性系数 ‌K22‌、螺距等进阶参数
智能化系统集成:高速数据采集,‌软件控制与分析配套软件(如 ‌WinLC‌)支持USB连接,实现数据可视化及统计分析(如介电频谱、响应曲线)
主要服务于显示材料研发(如 ‌TFT-LCD‌、柔性屏)及新型液晶化合物开发1
适用于:电光效应材料阈值优化,液晶显示器介电参数标定,高性能混晶配方验证

技术参数

功能测试(功能可自由组合搭配 )

液晶材料品质参数:电压保持率(VHR)残留DC偏压(RDC)离子密度(Ion Density);

液晶材料物性参数:CV曲线(电容.vs.电压)    弹性系数(K11 & K33) 弹性系(K22) 阈值电压(Vth) 介电常数(ε∥ & ε⊥) 旋转粘度γ1 预倾角;

铁电液晶材料参数:Ps    电场响应时间  旋转粘度   离子浓度和迁移率   电阻率   介电常数平行及介电常数垂直;

电学-光学响应 :

VT曲线:测试不同驱动电压下的透光率变化  

响应时间: 施加/撤除驱动电压后透光率的动态变化

光延迟测试(phase retarder)测量位相跟电压之间的关系(PRV)

高阻电阻率测试:可高灵敏度检测微小电流,大可测试1016ohm.cm,自动测试系统,使用屏蔽盒可屏蔽干扰;

折射率测试:折射率ne,no

盒厚测试:液晶空盒盒厚2~25um

双频液晶:10Hz到1MHz下介电各向异性

技术参数

输出波形:直流~ 2 kHz下限分辨率  0.01Hz;电压 0 to ±10 V (可选±95 V/可选±180 )分辨率  5 mV

输出更新率:500 kHz

输出分辨率:16 bit

输入分辨率:16 bit

输入采样率:2 MHz

电流测量范围:100 pA~ 1 mA

八档电流传感器电阻:1 kΩ,10 kΩ,100 kΩ, 1 MΩ, 10 MΩ, 100 MΩ, 1 GΩ  10GΩ

电流分辨率:10 pA

四档后级增益:1x, 10x, 100x, 1000x

电容测量:2 pF ~ 10 nF

电阻率测量范围:上限至 1016 ohm.cm


系统介绍 




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