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HCP421V-PM

微型变温探针台

产品简介：

HCP421V-PM可单独使用，也可搭配显微镜/光谱仪使用，其可在 -190℃ ~ 400℃ 范围内控温，同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制，探针台上盖与底壳构成一个可抽真空的密封腔，亦可内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化，可升级特殊场景拓展能力非磁性改造选项‌台体可改用非磁性材料，支持‌变温霍尔效应测试‌（如磁性半导体材料研究）‌产品咨询

功能特点

迷你温控探针台，可用于显微镜/光谱仪
宽温域、高精度、多参数原位同步测量、环境可控性及自动化扩展能力，使其成为材料科学与半导体工业的核心分析工具
-190℃~400℃ 可编程控温（负温需配液氮制冷系统）
配置吹气除霜管路，保障低温光学观察清晰度‌
负温段需配置液氮制冷系统，高温段采用PID控温算法保障稳定性‌
探针接口BNC或SMA四探针，可选六探针 *可选三同轴接口，用于pA级测试
可抽真空的腔体，亦可充入保护气体使用
可选增设腔内接线柱（样品接电引线）
提供软件SDK，支持温控器或PC端编程控制，适配自动化测试流程‌
可做定制或改动，详询上海恒商

温控参数

温度范围	-190℃~400℃
传感器/温控方式	100Ω铂RTD / PID控制（含LVDC降噪电源）
加热/制冷速度	+0.01℃/min ~ +30℃/min
温度显示分辨率	0.001℃
温度稳定性	±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
软件功能	可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线
加热区/样品区	Φ26mm
适用光路	反射（可选择透射/反射兼容）
探针	铼钨材质（可选镀金铍铜）
探针座	杠杆式探针支架，点针力度更大，电接触性更好
点针	手动点针，每个探针座都可点到样品区上任意位置
探针接口	BNC或SMA可选三同轴接口用于pA级测试可增设腔内接线柱（样品接电引线）
样品台面电位	电接地可选电悬空（作背电极）可选三同轴接口